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【2h】

ON THE COMPARISON OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY AND CHANNELLED RUTHERFORD BACK SCATTERING TECHNIQUES TO EVALUATE THE MULTI-LAYER SUB-SURFACE DAMAGE STRUCTURES

机译：关于透射电子显微镜和通道反射散射技术的比较，评价多层次表面损伤结构

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Sadana, D.K.; Strathman, M.; Washburn, J.; Booker, G.R.;
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年度 1980
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